相控阵故障探测器 OmniScan MX PA
超声波成像数据分析

相控阵故障探测器
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产品规格型号

所用技术
相控阵, 超声波, 成像
选项和配件
数据分析
应用
用于航空航天业, 用于 CND

产品介绍

相控阵技术生成超声波束,这些超声波束的参数,如:角度、聚焦范围和焦点尺寸等,可以通过软件进行控制。而且,声束可在一个很长的阵列上被多路切换。这些特点为相控阵技术增加了一系列新的应用功能。例如,在扫查工件时,可以不移动探头本身而快速改变声束角度。相控阵还可以代替多个探头以及机械部分。以可以变换角度的声束检测部件,可以充分发挥检测性能、优化信噪比,而不用考虑缺陷方向。 相控阵的优势 相控阵技术具有以下优势: 声束角度、聚焦范围和焦点尺寸的软件控制。 仅用一个小型电子控制的多晶片探头即可实现多角度扫查。 对复杂几何形状材料的检测具有更大的灵活性。 无活动部件的高速扫查。 相控阵软件 全功能A扫描、B扫描和C扫描 以OmniScan UT的功能为基础建立的OmniScan® PA可提供全功能A扫描、B扫描和C扫描显示。 全功能扇形扫查 实时体积校正显示 高于20 Hz的刷新率(可高达40 Hz) 高级实时数据处理 采集数据时,实时数据插值改进了缺陷的空间显示。 用户可选的高、低通滤波器提高了A扫描和成像的质量。 操作者使用投影功能,可以同时看到垂直显示的A扫描和扇形扫描图像。
* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。 联系电话:027-87774606