航空工程分析仪

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材料分析仪
材料分析仪
DELTA Professional

DELTA Professional 利用新开发的X-act Count技术 DELTA Professional分析仪在检测速度、检出限及可检元素的范围方面具有优质性能。这款分析仪的外壳符合工业设计标准,非常坚固耐用,可以在恶劣的环境中正常工作。这款分析仪不仅具有坚固耐用、分析性能可靠的优点,而且用户拥有分析仪的成本也较低。 机身设计坚固耐用且具有业内先进创新特点的DELTA Professional分析仪为您提供所需的各种功能。 优化的DELTA配置 新开发的X-act ...

材料分析仪
材料分析仪
VANTA

Vanta分析仪是非常先进的手持式X射线荧光(XRF)设备,可以为那些要求在现场获得实验室分析水平的客户,进行快速准确的元素分析和合金辨别。 Vanta手持式XRF分析仪的构造坚固。其机身设计结实耐用,可避免受到损伤,因而可以正常工作更长时间,并降低用户的拥有成本。 Vanta系列分析仪的界面浏览直观,软件可自行配置,您只需接受基础培训,即可轻松使用分析仪,获得高检测量,并迅速获得投资回报。Vanta分析仪采用专有的创新型Axon技术,无论检测环境或工作条件如何,都可以为您提供准确的结果,并有助于提高生产率。 在恶劣条件下表现出非凡的耐用性能。 分析性能卓越。 可选配无线局域网和蓝牙功能,可实时进行数据分享。可以应用云技术。 直观的用户界面。 坚固耐用 设备发生了故障,就会耗费时间和金钱。Vanta分析仪经久耐用,可以正常运行更长的时间,而且其拥有成本不高。这款Vanta分析仪含三年质保,我们保证其坚固耐用,您可以放心使用。 Vanta分析仪可以在恶劣的工作环境中正常工作,其特性如下: 通过了美国国防部标准(MIL-STD-810G)中的 ...

液体分析仪
液体分析仪
BTX II

ベンチトップX線回折装置BTX™ III BTX IIIは、鉱物の主要成分や微量成分を高速かつ高い信頼度で定量分析できる省スペースのベンチトップX線回折装置です。 BTX IIIは独特な小型の試料ホルダーを特徴とし、従来型のX線回折装置に置き換わる、軽量および実質的にメンテナンスフリーの装置です。 このスタンドアロン型装置には、圧縮ガス、水冷装置、二次冷却装置、外部変圧器が不要のため、所有コストを低く抑えられます。 オペレーターは、イーサネットまたはワイヤレス機能を使用して、X線回折装置を他のデバイスに直接接続することができます。 X線回折ツールはSwiftMin®ソフトウェアで稼働し、単一のダッシュボード、事前設定キャリブレーション、容易なデータエクスポート、自動データ転送を用いてワークフローを合理化します。 スピードと感度の向上により迅速な判断が可能 強力で直感的なソフトウェアと改良されたX線検出器の組み合わせにより、感度の向上、分析時間の短縮、信頼性の高い結果が得られます。 X線検出器の改良により、分析の高速化と検出感度の向上が行われ、検出限界(LOD)の改善につながっています。 SwiftMin®の自動化された相同定および定量ソフトウェアは、リアルタイムデータをXRD分析画面上に直接表示できるので、迅速かつ的確に判断をくだすことができます。

材料分析仪
材料分析仪
X-Strata920

微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列 微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。 X-Strata920 正比计数器或高分辨率 SDD 元素范围:钛 - 铀,或铝 - 铀(SDD) 样品舱设计:开槽式 XY ...

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Hitachi High-Yech Analytical Science
材料分析仪
材料分析仪
FT110A

微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列 微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。 FT110A 正比计数器系统 元素范围:钛 - 铀 样品舱设计:开闭式或开槽式 XY 轴样品台选择: ...

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Hitachi High-Yech Analytical Science
材料分析仪
材料分析仪
EA6000VX

微焦斑 XRF 光谱仪 | FT, EA6000VX 和 X-Strata 系列 微束XRF涂层厚度和材料分析仪,方便快速进行质量控制和验证测试,在几秒内即可获得准确的数据。 基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。 EA6000VX 高分辨率 SDD 元素范围: 镁 - 铀(使用氦气吹扫时钠 - 铀 ) 样品舱设计:开闭式 XY ...

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Hitachi High-Yech Analytical Science
信号分析仪
信号分析仪
NoisePAD™

... 概览 NoeSepad™ 是我们新的一类用于噪声和振动的 4 通道实时分析仪。 坚固耐用的工业 8 英寸平板电脑和基于 DST 的分析仪的组合符合标准 MIL 810。 所有连接器都采用橡胶保护杯防水和防尘。 NoiSepad 允许您几乎无处不在-在办公室以及室外与车载 4G,GPS 和 WiFi 的 12 小时自主权。 NoisPad™ 特别适用于: 职业安全和环境保护 工程服务 质量保证 研发 声级测量 频率分析 信号记录 人类振动测 量通过噪声测量机械振动测量 模态分 析订单 分析结构分析 标准和批准标准 IEC ...

噪声分析仪
噪声分析仪
OR38

概述 达到32通道的OR38分析仪集合各种独立测量工具于一身:分析仪、记录仪、以及信号调理器等。 OR38内置的计算能力,以及内置可移动的数据直通盘,使她能够轻松的面对各种不同的测量环境。在一个模块化、坚固、便携的仪器内,OR38实现了高级的试验仪器的功能。 主要特征 > 坚固的8到32通道机箱 > 便携式:8 kg (18.1lbs) > 达到40 kHz实时分析带宽 > 8, 16, 24或32个通用输入通道 > ...

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Oros
材料分析仪
材料分析仪
MSA-650 IRIS

... 硅封顶MEMS动态的光学表征 动态响应的可视化是测试和开发MEMS设备的关键。这对于验证FE计算和确定串扰效应是不可缺少的。创新和专利的MSA-650 IRIS微系统分析仪允许测量真正的MEMS动力学,通过硅封装无接触地表征平面内和平面外的运动,不需要准备也不需要解封器件。在制造过程中,MEMS封盖的步骤可能会导致额外的应力,这可能会改变器件的性能。因此,需要对MEMS器件在其最终和封装状态下进行全面的表征,这一点是不可或缺的。 亮点 封闭式MEMS中各个器件层的卓越分离提供了真正的动态MEMS行为 即使从结构复杂的硅封盖MEMS中提取实时运动数据 高达25MHz的高分辨率模态数据 对最终状态的MEMS进行直接的FE模型验证 集成的高性能红外显微镜可以透过硅壁进行测量 视频显微镜测量模式揭示了高达2.5MHz的面内运动 模态数据、图形和视频的标准数据输出格式,可直接进行后期处理 ...

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Polytec
材料分析仪
材料分析仪
MSA-600

测量MEMS系统的3D动态特性及形貌特性 表面形貌、动态特性分析及可视化是显微结构(如MEMS器件)测试和开发的关键。这对于验证有限元算法、确定串扰影响和测量表面形变等都至关重要。 MSA-600-M/V型的测量带宽高达25MHz,适用于MEMS、MEMS麦克风和其它微系统的振动测试。 全新研发的MSA-600-X/U型的测量带宽更是高达2.5GHz,尤其适用于高频MEMS谐振器、微声器件如SAW、BAW等振动测试。 亮点 专用于显微结构的一体化光学测量工作站 真正的实时测量(无需数据后处理) MSA-600-M/V ...

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Polytec
材料分析仪
材料分析仪
MSA-100-3D

MEMS 和微系统的3D 振动测量 实物振动通常是三维振动。诚然,您可选择优先显示某特定方向的振动,但由于存在产品公差和其它影响,其它空间方向也会产生运动分量。 MSA-100-3D 显微系统分析可在大带宽范围内实时测量样本的动态特性,高分辨率同时记录和分析XYZ三个方向的振动分量,每向的振幅分辨率均达到亚皮米级。 亮点 实时振动测量,高达 25 MHz 的大带宽 用于面外和面内振动测量,振幅分辨率达亚皮米级 单点式和全场扫描式振动测量 激光光斑小于 ...

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Polytec
噪声分析仪
噪声分析仪
Audiobox

... Audiobox®是One-Too与PSA合作开发的声纳仪。它倾听、定位并记录乘客舱、发动机舱、变速器和与地面连接处的空气和固体噪音。Audiobox®声纳仪采用振动声学技术操作。 ...

材料分析仪
材料分析仪
SPECTRO xSORT

SPECTRO xSORT 为大量样品测定和光谱化学分析而设计的手持式XRF 稳固的工具,分析大部分合金仅需两秒,识别含轻元素的合金仅需7秒,标准校正可分析合金和贵金属,涵盖16种基体及46种元素 仪器通常在开机后10秒内做好测量准备,在各种位置(USB驱动器、网络或打印机)以各种格式同步储存结果 非金属样本的合规测试和快速筛查。视频摄像头供准确定位样本和记录测量点。 SPECTRO xSORT的手持式ED-XRF光谱仪家族可对迥异条件下的多种材料进行元素测试和光谱化学分析。这些能量色散X射线荧光设备因其坚固性和可靠性而得到认可。它们在数秒内完成非金属鉴别,其创新技术和设计成就可重复的实验室级结果。简单友好的显示及高效的人体工程学设计使这些仪器极易使用。SPECTRO ...

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SPECTRO
信号分析仪
信号分析仪
R&S®EDS300

... 关键事实 对地面和空中的DME和TACAN系统进行高精度测量 所有信号参数的高精度测量和详细的脉冲形状分析 简要说明 R&S®EDS300是一款电平和调制分析仪,设计用于安装和维护脉冲式的地面导航服务。 特点 测量功能用于脉冲导航信号的定期验证 利用硬件和软件选项扩展功能和适应性 用户友好的设计和特定应用的附加功能 脉冲导航信号的验证 通讯和定期检查 I DME地面站的高精度距离和水平测量 I 对军用TACAN站的精确分析 I 105dB的高动态范围 I 符合ICAO要求、STANAG和MIL-STD的详细分析 ...

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ROHDE & SCHWARZ GMBH & CO. KG
材料分析仪
材料分析仪

信号分析仪
信号分析仪
ANA - 28

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DEKAL LOAD BANKS / DEKAL AGREGATI LLC
信号分析仪
信号分析仪
DCM-1553

液体分析仪
液体分析仪
FC400

信号分析仪
信号分析仪
DTS4050

... DTS4050 16通道热电偶扫描器 特点和规格 IEEE1588 v2时间同步 使用数字信号处理的实时操作系统 可接受E、J、K、N、R、S、T、B型。 工程单位输出,°C、°F、°R、°K和毫伏。 1000Vdc通道到通道隔离 600Vdc输入隔离 160dB,0-60Hz共模抑制。 50-60Hz共模噪声抑制 开放式热电偶测试 最大40赫兹(赫兹/通道) Ethernet 100 baseT TCP/IP协议 "网络就绪" 准确度+/- .5 °C(热电偶类型受限 应用 DTS4050数字热电偶扫描器是涡轮发动机、柴油发动机和压缩机测试单元以及其他工业环境如锅炉和烤箱温度监测的理想选择。该模块有一个不锈钢外壳,带盖子,便于输入端子的访问。标准的DTS是绝缘的、坚固的、防溅的。此外,还包括标准的环境冲击安装。DTS4050的电子元件经过特别设计,能够承受惩罚性的高EMI噪声环境,同时仍能提供准确的工程数据。 ...

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Scanivalve Corporation
网络分析仪
网络分析仪
VIA ECHO series

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AEA
信号分析仪
信号分析仪
Beta D-50

... 用于任何类型电池的分析仪。 可调节的恒定电流放电从0到50安培。 设置为安培小时容量读数。 接受或失败灯指示器,用于GO/NO-GO测试。 适用于任何电压或类型的电池。 恒定电流放电可在0.1至50安培之间调整。 可选择低电压切断。 可选择的放电时间从1到999分钟,并有数字读出时间。 测试结束时有声音报警。计量器和计时器锁定其安培-小时容量的读数。 接受和失败指示灯,用于简化GO/NO-GO测试。 可在115或230伏交流电下操作 设置放电时间。 设置低电压切断。 设置放电电流。 测试结束时,观察接受/失败指示灯或在锁定的数字仪表上检查电池的安培小时容量。 低电压断电选择器。 数字放电计时器,1-999分钟。 交流线路选择器 ...