厚度测量仪

10 个企业 | 47 个产品
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.defLight}}
{{#if company.requestButtonsVisibility.requestButtonQuestion == "ACTIVE"}}
{{elseif company.requestButtonsVisibility.requestButtonWhereToBuy == "ACTIVE"}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.defLight}}
{{#if company.requestButtonsVisibility.requestButtonQuestion == "ACTIVE"}}
{{elseif company.requestButtonsVisibility.requestButtonWhereToBuy == "ACTIVE"}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
涂层厚度测量仪 / 超声波 / 用于 CND / 用于航空航天业
涂层厚度测量仪
45MG

测量范围: 0.08 mm - 635 mm

... 45MG 超声测厚仪: 操作简单,坚固耐用,可靠 45MG 是一款先进的超声测厚仪,具有标准测量功能和软件选项。 这款独特的仪器与奥林巴斯双晶和单晶测厚传感器的完整系列兼容,使这款创新仪器成为几乎所有测厚应用的一体化解决方案。 标准 特性 45MG 的基本配置是一款简单直观的测厚仪,需要最少的操作员培训,以应对大多数常见的厚度测厚应用。 然而,凭借其他可选的软件选项和传感器,45MG 可以变得更先进,其应用范围远远超出典型入门级量具的应用范围。 此外,大多数选项可在购买时单独提供,也可以在将来根据您的需求变化添加。 ...

查看全部产品
Olympus
涂层厚度测量仪 / 内壁 / 超声波 / 用于 CND
涂层厚度测量仪
38DL PLUS

测量范围: 0.08 mm - 635 mm

... 38DL PLUS® 超声测厚仪: 先进的功能,操作简单,坚固耐用,可靠 38DL PLUS 是一款创新的仪器,标志着超声测厚仪的新时代。 这款手持式测厚仪非常适合几乎所有超声波测厚应用,与全系列双晶和单晶探头完全兼容。 多功能 38DL PLUS 可用于各种应用,从使用双晶探头对内部腐蚀管道进行壁薄测量,到使用单晶探头对薄层或多层材料进行非常精确的厚度测量。 38DL PLUS 标准配备了许多功能强大但易于使用的测量功能和一系列特定于应用的软件选项。 其密封外壳设计满足 ...

查看全部产品
Olympus
多种材料厚度测量仪 / 数显 / 磁性 / 用于 CND
多种材料厚度测量仪
Magna-Mike 8600

测量范围: 0.01, 0.1 mm

... Magna-Mike 8600 Magna-Mike® 8600 是一款便携式测厚仪,采用简单的磁性方法对有色金属材料进行可靠和可重复的测量。 麦格纳-迈克的操作是非常简单的。 测量是在测试材料的一侧固定或扫描其磁性探针,而在另一侧放置一个小目标球(或圆盘或线)或落在容器内时进行的。 探头的霍尔效应传感器测量探头尖端与目标球之间的距离。 测量结果将立即显示在大型彩色厚度显示屏上,作为易于阅读的数字厚度读数。 新特点 三种新的耐用探头设计: -直线、直角和低剖面铰接 可更换戴帽 -标准、凿尖和延长磨损(仅适用于 ...

查看全部产品
Olympus
涂层厚度测量仪 / 数显 / 用于 CND / 用于航空航天业
涂层厚度测量仪
CMI95M ®

测量范围: 5 µm - 140 µm

... 可靠的铜箔和层压板厚度测量在 1 秒内 对 PCB 箔和层压板厚度进行质量保证和层压板铜厚度测 量,在不到 1 秒内测量 PCB 上的箔或层压板厚度介于 1/8 至 4.0 oz /ft2(5-140 µm)之间。 我们的 CMI95M ® 易于使用,只需将独特的软触感探头放在铜表面,并在指示器上记下厚度测量即可。 该仪表采用经过现场验证的微阻 技术,根据厚度对铜箔和层压板进行分类。 CMI95M® 是坚固耐用、经济实惠和高度准确的。 因为它是工厂校准的,所以不需要使用标准。 ...

查看全部产品
Hitachi High-Yech Analytical Science
涂层厚度测量仪 / 数显 / 用于 CND / 用于航空航天业
涂层厚度测量仪
CMI165 ®

测量范围: 5 µm - 140 µm

... 独特的温度补偿表面和痕 量铜厚度,无论铜 温度如何,都会影响铜样品的测量。 我们的 CMI165 ® 可以对温度进行补偿,从而产生 精确的过程中检测结果,无论 铜的温度如何。 它是用于 PCM 制造和装配的质量保证和检测的理想仪器。 | 铜表面厚度。 我们的 CMI165 ® 仪表具有多功能和便携性。 它 配备了一个保护壳,其耐用的设计可以在 最恶劣的环境中采用。 CMI165 ® 是一个不错的选择: | 在热或冷电路板上测量铜。 | 消除优惠券的需求,减少浪费。 ...

查看全部产品
Hitachi High-Yech Analytical Science
涂层厚度测量仪 / 数显 / 用于 CND / 用于航空航天业
涂层厚度测量仪
CMI511®

测量范围: 5 µm - 140 µm

... 带温度补偿的电镀推孔铜厚度可 快速测量镀通孔铜厚度在蚀刻前和蚀刻后。 CMI511® 具有独有的温度补偿功能,用 于在工艺厚度测量,以减少废料和昂贵的 返工。 它的自动温度校正使其高 精度,即使在刚刚 从电镀槽中提升的电路板上测量也是如此。 该仪表是 PCB 制造和装配的理想选择。 | 通孔铜厚度。 CMI511® 不需要标准,因为它 经过工厂校准,确保其性能始终高度准确。 它是双面和多层板的理想选择,甚至镀 锡和锡/铅。 CMI511® 提供即时 测量,易于使用,无 需对操作员进行培训。 ...

查看全部产品
Hitachi High-Yech Analytical Science
膜厚度测量仪 / 非接触式 / 用于 CND / 用于航空工程
膜厚度测量仪
EddyCus® TF lab 2020

... EddyCUS TF 实验室 2020 允许手动单点测量导电薄膜,以及在非接触模式下对薄金属薄膜进行层厚度测量。 紧凑型台式设备非常适合快速、精确地测量高达 200 x 200 mm²(8 x 8 英寸)的样品。 除了测量薄导电层外,还可以分析掺杂晶片和导电聚合物。 优点: 非接触式实时测量 导电薄膜精确测量 隐藏和封装导电层的 表征测量数据保存和输出功能测量特性: 金属层的薄膜电阻厚度测量单点测量 质量控制、输入和输出控制 样品尺寸:10 x 10 毫米至 ...

查看全部产品
SURAGUS GMBH
膜厚度测量仪 / 非接触式 / 用于 CND / 用于航空工程
膜厚度测量仪
EddyCus® TF lab 4040

... EddyCUS TF 实验室 4040 专门用于对较大基材进行非接触式单点板电阻测量。 灵活应用的台式设备可对导电薄膜和金属层厚度进行精确的手动薄膜电阻测量。 最常见的应用包括测量薄导电层、掺杂晶圆和导电聚合物。 优点 非接触式测量 (实时) 在 大型基材上精确测量导电薄膜 金属层厚度测量 (nm) 隐藏和封装导电层的描述 测量结果可储存 测量特 性板电阻测试 金属层厚度测量 单点测量 质量保证 样品尺寸:10 x 10 平方米至 400 x 400 平方米(0.5 ...

查看全部产品
SURAGUS GMBH
涂层厚度测量仪 / 用于膜 / 非接触式 / 用于航空工程
涂层厚度测量仪
EddyCus® TF map 2525SR

... 在非接触模式下,EddyCUS TF 贴图 2525SR 可自动测量大型样品的板电阻,最大可达 250 x 250 mm²(10 x 10 英寸)。 手动定位样品后,设备会自动测量并显示整个样品区域的板电阻的精确映射。 测量设置允许轻松灵活地在 1 分钟以下的快速测量时间或超过 100,000 个测量点的高空间测量分辨率之间进行选择。 优点 非接触式实时测量高达 250 x 250 m² (10 x 10 英寸) 的 导电薄膜高分辨率映射, 即使隐藏和封装的导电层也能表征 各种软件集成的分析功能(例如板电阻分布,线扫描, ...

查看全部产品
SURAGUS GMBH
内壁厚度测量仪 / 超声波 / 用于航空工程 / 用于 CND
内壁厚度测量仪
SONOWALL 70

查看全部产品
SONOTEC Ultraschallsensorik Halle GmbH
涂层厚度测量仪 / 超声波 / 用于航空工程
涂层厚度测量仪
ZONOTIP

查看全部产品
Johnson & Allen
多种材料厚度测量仪 / 超声波 / 用于航空工程
多种材料厚度测量仪
MX-10

玻璃厚度测量仪 / 数显 / 用于航空航天业
玻璃厚度测量仪
AlphaGage+

测量范围: 0.13 mm - 584 mm

涂层厚度测量仪 / 磁电感式 / 用于航空工程
涂层厚度测量仪
IPX-201F

查看全部产品
Bowers Group
玻璃厚度测量仪 / 数显 / 用于航空工程 / 用于 CND
玻璃厚度测量仪
TG100D

测量范围: 0.56 mm - 1,270 mm

查看全部产品
NDT SYSTEMS
多种材料厚度测量仪 / 数显 / 用于 CND / 用于航空工程
多种材料厚度测量仪

查看全部产品
TESTIA