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相控阵超声波探头 7.5DL32-32X5-REX1-P-2.5-OM-IHC-PR-RW
光束延迟线

相控阵超声波探头 - 7.5DL32-32X5-REX1-P-2.5-OM-IHC-PR-RW - Evident - Inspection Technologies - 光束 / 延迟线
相控阵超声波探头 - 7.5DL32-32X5-REX1-P-2.5-OM-IHC-PR-RW - Evident - Inspection Technologies - 光束 / 延迟线
相控阵超声波探头 - 7.5DL32-32X5-REX1-P-2.5-OM-IHC-PR-RW - Evident - Inspection Technologies - 光束 / 延迟线 - 图像 - 2
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产品规格型号

配置
相控阵
所用技术
光束, 延迟线
频率

8 MHz

产品介绍

概述
REX1 Pulse-Receive(PR)Dual Linear Array™(DLA)探头用于腐蚀检测和近表面缺陷检测。PR 布线与 pitch-catch 元件布局支持高级相控阵技术,如全聚焦法(TFM)和相位一致性成像(PCI),以改进浅表缺陷的成像效果。

优点与特性
  • 支持复杂聚焦律的 Pulse-Receive(PR)布线
    • 全聚焦法(TFM)
    • 相位一致性成像(PCI)*
  • pitch-catch 架构可降低界面回波并提高近表面分辨率
  • 优化的波束发射能力与较宽的波束覆盖(最高可达30 mm)
  • 带有板载聚焦律文件,兼容 OmniScan™ X3 与 OmniScan X3 64
  • 兼容配备脉冲/接收模块的检测仪
  • 可与 WeldSight™ 检测与分析软件集成
  • 可检测表面下最浅约 1 mm(0.04 in)的缺陷
  • 碳钢中典型检测深度:1–80 mm
  • 适用于 4 in 及以上直径到平面的快速调节系统
  • 可更换延迟线、内置冲洗和碳化物耐磨板,便于现场维护


典型应用
适用于手动、半自动或自动化的腐蚀检测和关键缺陷评估,包括点蚀(pitting)、蠕变损伤和氢致开裂(HIC)。在需要较高近表面分辨率和浅层缺陷精确评估的场景中推荐使用。

双阵列 Pitch-Catch 技术
DLA 探头在倾斜的延迟线上布置独立的发射和接收元件列,使能量聚焦于表面下方。这一几何结构显著降低了表面反射幅度,提高了浅表缺陷的检出概率。

规格
  • 型号系列:REX1 Dual Linear Array™(DLA)PR probe
  • 可选型号:
    • 7.5DL32-32X5-REX1-P-2.5-OM-IHC-PR-RW — 物料号 Q3301867 — 电缆 2.5 m
    • 7.5DL32-32X5-REX1-P-5-OM-IHC-PR-RW — 物料号 Q3302172 — 电缆 5 m
  • 工作频率:7.5 MHz
  • 单元数量:Dual 32
  • 间距(pitch):1 mm
  • 有效孔径:32 mm
  • 仰角(Elevation):5 mm
  • 外形尺寸(L×W×H):66 × 40 × 44 mm(2.57 × 1.58 × 1.73 in)
  • 波束覆盖:最多 30 mm(1.18 in)
  • 碳钢中的典型检测深度:1 至 80 mm
  • 可检测的近表面缺陷深度:低至 1 mm(0.04 in)
  • 维护要点:可更换延迟线、内置冲洗、碳化物耐磨板、适用于小直径到平面的快速调节
  • 支持的成像技术:Phased Array(PA)、全聚焦法(TFM)、相位一致性成像(PCI;PCI 在 OmniScan X3 64 上可用)

PDF产品目录

* 显示价格为参考价,此价格不含税、不含运费、不含关税,也不包含因安装或投入使用所产生的其他额外费用。参考价格可能因国家、原材料价格和汇率的不同而产生变化。 联系电话:027-65316055