膜厚度测量仪

测量范围: 2 mm

... EddyCus® TF lab 2020系列可以对导电薄膜进行手动单点测量，并以非接触模式对薄金属层进行层厚测量。这个紧凑的台式设备是快速和准确测量200 x 200 mm²（8 x 8英寸）以下样品的理想选择。除了测量导电薄层外，还可以分析掺杂的晶圆和导电聚合物。 亮点 非接触式实时测量 导电薄膜的精确测量 隐藏和封装的导电层的表征 测量数据保存和输出功能 特性 片状电阻 金属层的厚度测量 单点测量 质量控制，输入和输出控制 样品尺寸。10 x 10 mm² 到 200 x 200 mm² ...

... EddyCus TF dep（深度剖析器）是一个独特的工业涡流测量设备，利用从10kHz到100MHz的频率，专门用于平面试样的表征。测量频率的变化可以控制穿透深度。高频率的测量有利于表征散装材料和薄膜的近表面材料特性。此外，灵敏度随着测量频率的增加而增加。因此，非常低的导电材料和层也可以被表征。此外，该设备支持通过利用多频率测量生成深度剖面。测量参数为电导率和相关特性。 应用和设置 对具有不同穿透深度的散装材料进行电导率测试 材料分选 非导电材料上导电层的金属层厚度测试 导电材料上的油漆厚度测定（掀开）。 表征材料特性，如高导电性和低导电性材料的近表面薄层的硬度或微结构 系统特点 根据测量任务（穿透深度、光斑大小、灵敏度）定制的传感器集成 测量范围：200 ...

测量范围: 2 mm

... EddyCus® TF lab 4040系列专门用于中等尺寸基材的非接触单点测量。这个灵活适用的台式设备可以根据其设置精确手动测量片状电阻、金属厚度、光学透明度或电（各向同性）。最常见的应用包括测量透明和非透明的导电薄层、晶圆或金属片。 亮点 非接触、实时、坚固 准确和非常可重复的测量 测量质量高，不受任何影响。 均匀的接触质量 钝化/封装 粗糙度 对敏感层没有伤害 精确测量 传统的导电薄膜 网格和导线结构 多层系统 隐藏和封装的导电层 无磨损 软件指导下的人工测绘，可实现系统化的质量保障 许多测量数据的保存和输出功能 节省空间的智能显示器集成（用于每个触摸屏的测量和数据评估 使用客户程序的软件开发包测试自动化 类型 该设备可以配备不同的传感器，包括用于电气表征的涡流传感器或用于光学表征的传感器。该设备平台的变体涉及以下选项。 ...

测量范围: 2 mm

... EddyCus® TF map 2525系列在非接触模式下自动对高达250 x 250 mm²（10 x 10英寸）的样品进行特性成像。在手动定位样品后，设备自动测量并显示整个样品区域的特性分布。测量设置允许轻松和灵活地选择1分钟以下的快速测量时间或每个样品超过50,000个测量点的高空间测量分辨率。由此产生的图谱提供了对透明和非透明层或晶圆和金属片的均匀性和质量的真实见解。该台式设备可以根据其设置对片材电阻、金属厚度或光学透明度进行精确成像。 亮点 非接触 快速和精确的测量 导电薄膜的高分辨率制图 基板成像可达250 ...