光学检测机 PI 640i G7

用于材料飞行

用于玻璃钢化设备的Optris自下而上玻璃检测系统 Optris新型玻璃检测系统为低辐射玻璃生产提供新的温度测量方法。低辐射玻璃对红外设备构成重大挑战，传统的红外设备是在生产过程中玻璃板移出熔炉时从上方测量玻璃温度。 新型自下而上玻璃检测系统通过在钢化线下方安装两台红外成像仪，测量玻璃非镀膜高辐射率一面的温度，从而解决了这个问题。 两台最大视场为111°的VGA成像仪相结合，在最大扫描宽度为4.3米的情况下，可获得出色的1600像素扫描线分辨率。 曝光时间为90 µs的超高速CTlaser 4M高温计和数控镜头保护系统（DCLP）相结合，为两台红外热像仪在玻璃破碎时提供可靠保护 主要参数 紧凑的自下而上系统，用于涂层独立的下方测量 集成了超快速的玻璃破损检测，结合了数字控制的镜片保护系统（DCLP）。 预先组装好的系统易于安装在玻璃钢化炉上 玻璃面积计算