结构三维测量机

高精度、操作简单、便携性佳 系列是专为车间设计的便携式光学 CMM。凭借其计量级精度和动态参考性能，无论测量设置、环境不稳定性和用户技能水平如何，HandyPROBE 都能提供高精度的测量结果。 不需要复杂的测量设置，包括零部件、光学跟踪器和无线探头在内的整个测量系统可以随时在测量过程中自由移动。 是直接在生产车间测量各种尺寸零部件和几何实体的理想计量解决方案。 实现计量级精度 这款便携式光学 CMM，可在车间现场内获取高精度、可靠和可重复的 ...

可在各类要求高测量精度的领域使用——从科研机构的测量实验室、航空和航天工业直至光学工业。这一高端测量机的测量精度达到技术极限，其测量范围近1立方米。 于Y轴向配备双线性驱动系统，得益于蔡司的中央驱动技术可实现优异的同步控制。该技术可据X轴位置完美分布驱动力。 作为控制系统及算法之完美结合，这是在整个测量范围内获得优异的测量精度及运动稳定性的关键因素。 所有轴均采用线性驱动 XENOS的所有轴均采用线性驱动。其优点：高速、加速极快、定位精度高、驱动无剪切力影响。结合超高分辨率光栅尺技术，XENOS的线性驱动可获得高度稳定性及低于100纳米的极高定位精度。 例如，测针偏移量越恒定，即可获得更佳的测量精度。于测量曲面时更显见另一优势：测针的移动路径与预定值越吻合，即可实现越出色的精准性。 碳化硅陶瓷 XENOS在与精度密切相关的机器部件上采用创新的碳化硅陶瓷材料。迄今为止，该材料从未在类似产品或精度的测量机器上得到使用。 与常规陶瓷相比，碳化硅陶瓷的热膨胀性降低约50%，而刚性则可提升30%，同时减重20%。与钢材相比，碳化硅陶瓷重量降低50%而竟仍可获得两倍的刚性。

... Dynatest Mk-III 路面轮廓仪可测量多种指数和特性，包括纵向轮廓、国际粗糙度指数 (IRI)、车辙数 (RN)、横向轮廓、车辙、宏观纹理和几何特性（横降、坡度和曲率半径）。它还可以为波音颠簸指数 (BBI) 计算提供数据。路面轮廓仪具有独特的 "走走停停 "功能，可在城市地区的交通信号灯、停车标志、路口和环岛处高效运行，是城市和农村路网数据采集的理想工具。该设备符合 ASTM E950 Class 1、AASHTO R 57 以及经独立验证的国家道路标准（如 ...

X轴: 50 mm
Y轴: 400 mm
Z轴: 400 mm

... 最新一代的CRYSTA-Apex坐标测量机，即新的CRYSTA-Apex V系列，包含了最先进的技术，是在高速下进行非常精确的测量所必需的。CRYSTA-Apex V系列是全新的，使用三丰享誉全球的ABS光栅尺，对环境条件有很强的抵抗力，启动时不需要进行归位。SMS功能实现了状态和服务监测，可在智能工厂环境中使用。 CRYSTA-Apex V是一项面向未来的投资，由于它能够轻松地改变或增加探头系统和软件，因此能够处理您未来可能遇到的任何任务。 主要优点： 经过验证的轻质桥式结构，每个轴上都有高刚性空气轴承 高精度、高速度和高加速度 温度传感器可对机器和工件进行16°到26°C的补偿并监测环境温度。 ABS直线光栅尺具有很高的耐环境性，由于不需要归位，所以在启动时可以节省时间 UC480控制器支持多传感器和SMS功能（智能测量系统）。 规格 准确度：- E0，MPE从：（1,7+0,3L/100）µm 宽度: ...

X轴: 400, 700 mm
Y轴: 2,800, 600, 1,600 mm
Z轴: 1,200, 1,400, 750 mm

针对齿轮和各种工件的便携式测量设备 系列的设备已根据客户对测量齿部、环形工件（如轴承环）、外壳等的特殊要求直接在生产机器上进行了优化调整。 通过结合按照客户要求设计（扩展坞）的底板和回转台，产生了一个完美的 4 轴测量设备。在没有回转台的情况下也可以直接在车间中进行测量。在 KNM P 机器中还使用了特殊结构的高精度机械装置，易于接近，并具有最先进的驱动技术（直线电机）。 数控3轴结构可检测所有齿部参数或一般工件轮廓。 特别引人注意的是任意可选的工件直径以及从 ...

X轴: 50 mm
Y轴: 50 mm
Z轴: 25 mm

IF-PortableRL 是一款三维光学测量设备，主要应用于质量控制中微观表面结构的测量。该设备可以实现的测量范围可达到50x50x26毫米，可测量拥有弯曲和平整表面的零件。通过特别配备的手提电池，还可以实现灵活的移动定位，可测量任何需要测量的部分。基于其大范围的垂直扫描能力，可以测量各种不同几何种类和形貌。除此以外，该设备还可以实现平面检测，球类测量，涡轮叶片或旋转叶片的质量控制，以及钢铁零部件的三维测量。 高测量密度 高达5亿个测量点确保超精密测量,同时也可以保证即使在长工作距离下，也能保持公差在微米甚至亚微米范围内。Focus-Variation光学技术的高测量点密度使操作员能够在大范围测量过程中获得始终如一的高横向和纵向分辨率。 测量倾斜斜面 来自不同方向的光源通过处理可以提高测量效果，从而获得最佳倾斜斜面的数据，也不会受到物镜数值孔径的影响。根据不同的表面特性甚至可以测量达到87度的斜面。 各种不同表面反射特性 运用SmartFlash软件可以实现对各种具有不同表面折射特性的材料实现高分辨率测量。组合光源可以为整个测量范围提供最佳测量光源。我们的用户使用该设备可以为粗糙的，光滑的和高反射表面提供完整的三维测量。