Renishaw航空工程软件

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报告软件
报告软件
CARTO

是一款同时适用于雷尼绍XL-80、XM-60、XM-600及XR20-W校准产品的软件解决方案。 该软件具有数据采集、数据分析和误差补偿应用程序,可简化监控和改进机器定位性能的过程。 兼容所有雷尼绍激光校准产品和附件,因此测试方法和结果可一起存储在CARTO数据库中。在软件中可轻松配置多个报告和误差修正首选项。

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分析软件
分析软件
QuickViewXL™

... 接口可使测量数据与LaserXL和QuickViewXL软件包兼容。对于需要查看和分析实时动态测量数据的用户来说,这无疑是一套理想的解决方案。 利用图形化界面(几乎没有文字)和一个用于设定、系统状态和数据观测的屏幕,“示波器”功能能够非常直观地显示被采集的数据(或数据“流”)。利用单独的状态栏,可迅速观测XL-80、环境及测量状态和报警信息。 多年来,电子工程师一直依赖于示波器来分析电压或电流的变化情况。如今,雷尼绍的全新QuickViewXL™软件为机械工程师提供了类似功能,使他们能够通过位移、速度或加速度显示对线性 ...

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控制软件
控制软件

补偿)软件可通过以下方面降低加工废品率、节省成本: 轻松补偿几何量误差 提升机器定位性能 缩短因修改误差补偿表而导致的停机时间 线性误差补偿 可轻松更新线性和直线度补偿表。 兼容的硬件 XL-80激光干涉仪 XM-60或XM-600多光束激光干涉仪 支持的控制器类型 Siemens 840D Solution Line Heidenhain TNC 640 空间补偿 可轻松更新线性、角度、直线度、滚摆和垂直度补偿表(21个自由度)。 兼容的硬件 XM ...

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报告软件
报告软件
laserxl™

旧版软件 我们不再对旧版软件提供支持,也就是说,我们不再对旧版软件提供漏洞修复或增强功能。如果您认为新版软件缺少针对您当前产品的某种功能,请联系当地的雷尼绍办事处。 如果您使用的硬件与新版软件不兼容,您可能会对我们的升级选项感兴趣。

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控制软件
控制软件
RotaryXL

旧版软件 我们不再对旧版软件提供支持,也就是说,我们不再对旧版软件提供漏洞修复或增强功能。如果您认为新版软件缺少针对您当前产品的某种功能,请联系当地的雷尼绍办事处。 如果您使用的硬件与新版软件不兼容,您可能会对我们的升级选项感兴趣。

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报告软件
报告软件
XCal

我们不再对旧版软件提供支持,也就是说,我们不再对旧版软件提供漏洞修复或增强功能。如果您认为新版软件缺少针对您当前产品的某种功能,请联系当地的雷尼绍办事处。 如果您使用的硬件与新版软件不兼容,您可能会对我们的升级选项感兴趣。

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检查软件
检查软件
Plus

增强型工件测量软件)提供各种用于雷尼绍机床测头的测量循环,从基本的工件找正和检测循环到更为复杂的矢量和角度检测程序,方便易用。 使用方便 经验丰富的用户可使用传统的G代码技术创建和执行循环。GoProbe软件采用简化的编程方法,配以自学式培训组件,结合智能手机应用程序,新用户以及经验不多的用户亦可轻松使用。 Inspection Plus还支持各种图形化用户界面 (GUI),包括GoProbe ...

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设计软件
设计软件
FixtureBuilder

是一个3D建模软件包,可用于创建和记录夹具组合。 将待测零件的CAD模型导入FixtureBuilder软件中,从而可在该软件中根据零件设计夹具组合。随后可将整套夹具组合,连同待测零件,导出到检测编程软件中。FixtureBuilder支持大部分CAD格式,包括IGES、SAT和STEP。 特性与优点 源自雷尼绍在测量领域积累的丰富检测经验和大量最佳实践方法,具有多种优点 所有标准底板和装夹部件均按照部件类别和螺纹规格进行分组,通过带有标签的目录便可轻松访问。 只需将部件拖放到底板或另一部件上便可完成操作 ...

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规划软件
规划软件
APEXBlade™

一种用于路径规划和基于CAD生成DMIS工件程序的超快速工具 软件用于复杂的五轴路径规划 软件包的设计目的是加速五轴扫描路径的生成。工作原理是让用户导入标称几何形状(本示例中的航空发动机叶片)并选择要测量的叶片。然后,本软件自动确定叶片最佳的五轴快速面扫描路径。生成的DMIS工件程序根据具体应用编写后导入MODUS,并可在此运行工件程序。 在工件程序中编写快速面扫描程序块更加方便、快捷 采集的叶片数据远远超过截面扫描(每个叶片的点云图) 可根据需要返回之前所完成的任何扫描区段 ...

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测量软件
测量软件
MODUS™

点云截取器通过REVO先前采集的大量测尖中心数据点,在任一平面生成“表面内”截面。 对于每个待评估的截面,均有必要从CAD模型中创建名义曲线。MODUS通过“添加层”功能为任意数量的截面提供这种能力。 用于通过REVO采集的点云数据生成截面。这些截面位于表面内,偏离测尖中心,并消除数据拟合过程中产生的余弦误差。 能够在测量时或未来在不同的位置需要其他截面时,多次在同一测量数据集中使用。无需重新测量叶片。

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