表面测量仪 TR SCAN WLI

光学非接触式用于航空航天业

高精度非接触表面测量。 TR Scan Compact WLI系列允许对任何类型的材料进行亚纳米级分辨率的测量。凭借其使用简单和小巧的尺寸，它可以轻松集成到实验室环境中，并允许快速和简单的测量。 WLI（白光干涉仪）技术与压电电机结合，允许进行极快的测量。该台面允许手动移动重达5公斤的工件。可选配电动台面以扩展X&Y测量范围。 - 非接触 - 小占地面积 - 测量范围400 µm - 分辨率0.1纳米 - 极易使用 - 2.5倍和5倍Michelson型光学器件，视野广阔 - 可更换光学器件，或安装在旋转台上 技术细节 分辨率: 0.1 nm 横向分辨率 (X/Y): 4.81 µm至0.52 µm 测量范围: 400 µm 光学变焦: 2.5倍至100倍 工作距离: ~10.3 mm至~3.4 mm 规格 温度范围: 0至50 [°C] 通道: 2 分辨率: 0.01 [°C] 精度: ±0.5 [°C] 通信协议: USB或串行通信 电源: 从USB或串行 电源: 0.5 [W] 尺寸: 82 x 102 x 36 [mm] 重量: 350 [g] 温度传感器 传感器类型: PT100 电缆长度: 3 [m] 公差: DIN EN 60751 1/3 DIN类 串行通信配置 波特率: 9600 [位/秒] 位: 8 奇偶校验: 无 可用型号 TR Scan Compact WLI TR Scan C. WLI MA 73×55 TR Scan C. WLI MO 75×50 TR Scan C. WLI MO 100×100 TR Scan Compact WLI 多目标（旋转台） TR Scan E. WLI MA 73×55 TR Scan E. WLI MO 75×50 TR Scan E. WLI MO 100×100 品牌: Trimos 产品: TR Scan Compact WLI 测量技术: 白光干涉仪 (WLI) 分辨率: 0.1 nm 测量范围: 400 µm 手动和电动台面选项 可更换光学器件，旋转台选项 重量: 350 g (不含传感器) 尺寸: 82 x 102 x 36 mm (不含传感器) 电源: USB或串行 工作温度: 0至50°C