表面测量仪 TR SCAN Z

数字非接触式用于航空航天业

TR Scan Compact Z是一款最先进的微型高度测量柱，专为各种材料（包括金、软表面和透明表面）的非接触测量而设计。它具有直观的相机控制、可调节的亮度，并能以高精度对移动部件进行测量。 利用共焦色差显微镜点（CCMP）技术，它能够在传统接触传感器无法到达的区域进行高度测量。其快速而精确的X/Y台定位系统和快速的Z测量能力提高了其在各种应用中的效率和多功能性。 CCMP技术与数字相机结合使用，可以在部件上可视化“虚拟球”测量点。得益于这种方法，可以在传统接触传感器无法到达的地方进行高度测量。可选的台面测量系统（X/Y）允许快速而精确的定位。极快的Z测量系统（2000 Hz）允许对移动部件进行动态高度测量。 - 非接触 - 直观的相机控制 - 可调节的亮度 - 高度/增量/最小/最大测量 - 快速移动 - 易于使用的软件 - 高精度 - 移动部件的测量 TR Scan Compact Z 光学传感器 - 工作距离：31.8 mm - 测量范围：8 mm - 分辨率：0.1 µm - 数值孔径：0.25 - 最大测量角度：90° +/- 15° - 光斑尺寸：15 µm - MEP：0.6 µm X/Y测量系统 - 系统类型：增量 - 分辨率：1 µm - MEP：~ 10 µm - 接口连接：2x USB 2.0 视觉 - 视频流：实时图像 - 视野：7 x 5.25 mm - 分辨率：1600 x 1200 - 像素大小：~4.3 µm - 传感器类型：彩色CMOS 其他 - 接口连接：2x USB 2.0 - 对所有类型的材料（如金、软表面、透明表面等）进行非接触表面测量 技术特性/规格： - 非接触高度测量 - 共焦色差显微镜点（CCMP）技术 - 测量点的相机可视化 - 可选的X/Y测量系统用于快速而精确的定位 - 快速Z测量系统（2000 Hz） - 工作距离：31.8 mm - 测量范围：8 mm - 分辨率：0.1 µm (Z), 1 µm (X/Y) - 数值孔径：0.25 - 最大测量角度：90° +/- 15° - 光斑尺寸：15 µm - MEP：0.6 µm (Z), ~10 µm (X/Y) - 接口：2x USB 2.0 - 视觉：实时图像，1600 x 1200分辨率，~4.3 µm像素大小，彩色CMOS传感器 - 视野：7 x 5.25 mm