产品亮点- 双视图成像
- 24位色彩高分辨率图像
- 材料识别能力增强
- 配备 Intel® Core™ 处理器的 Windows 操作系统
- 实时诊断
- 高对比度图像分析
产品信息XIS-6545DVS™ 是一款配备双成像发生器的 X 射线检测系统,可同时从多个角度获取物品和行李的独立视图,减少盲区并提升检测精度。每个视图均可通过 Astrophysics 的多色高对比度筛查软件独立查看。
系统的高分辨率图像和 24 位色彩输出可提高处理吞吐量,减少处理误报和人工复检所需时间,从而在运行环境中实现更快的处理速度。
特性 / 技术参数- 发生器:Dual 180kV
- 通道尺寸:65.0 cm x 45.2 cm (25.6" x 17.8")
- 长度:204.0 cm (80.3")
- 宽度:128.2 cm (50.5")
- 高度:135.0 cm (53.1")