行李扫描仪 XIS-6545DV™

检查机场X射线

产品信息
XIS-6545DV™ 是一款配置为双视角筛查的X射线检测系统（XIS）。其双路180 kV发生器提供向上和斜向成像角度。每个视角可独立控制，以支持快速且深入的检测，并可同时使用不同的筛查模式。
借助 Astrophysics 的成像软件，XIS-6545DV™ 提供高对比度彩色图像，帮助操作员更快更准确地识别材料、识别物体并隔离潜在威胁。

产品亮点

• 双视角成像（向上与斜向）
• 24位色彩的高分辨率图像
• 增强的材料识别能力
• 配备 Intel® Core™ 处理器的 Windows 操作系统
• 实时诊断与系统监控
• 高对比度图像分析与色彩滤镜

规格
发生器：
双路 180 kV
通道尺寸：
65.7 cm x 45.1 cm (25.9" x 17.8")
长度：
213.3 cm (84.0")
宽度：
101.6 cm (40.0")
高度：
129.0 cm (50.8")

技术规格

• 型号：XIS-6545DV™
• 系统类型：双视角X射线检测系统
• 发生器：双路 180 kV
• 通道尺寸：65.7 cm x 45.1 cm (25.9" x 17.8")
• 外形尺寸（长 x 宽 x 高）：213.3 cm x 101.6 cm x 129.0 cm (84.0" x 40.0" x 50.8")
• 成像：双视角，高分辨率24位色；增强的材料识别；高对比度分析
• 软件/操作系统：Windows OS，Intel® Core™ 处理器；实时诊断