表面数据采集系统 QuickScan iX ECA

航空航天用途高速无显示

QuickScan iX ECA采集仪器专为在材料生产环境中进行表面检测而设计。与经过现场验证的QuickScan iX PA仪器一样，QuickScan iX ECA仪器的设计也符合可靠的24 V I/O工业标准。每个单元最多可连接8个探头。可将多个采集单元组合在一起，构建对探头或速度要求更严格的配置。 用于生产线上产品表面检测的性能强大的涡流阵列解决放案 QuickScan iX ECA采集仪器专为在材料生产环境中进行表面检测而设计。与经过现场验证的QuickScan iX PA仪器一样，QuickScan iX ECA仪器的设计也符合可靠的24 V I/O工业标准。每个单元最多可连接8个探头。可将多个采集单元组合在一起，构建对探头或速度要求更严格的配置。 QuickScan iX ECA仪器 为满足工业要求而打造 QuickScan iX ECA仪器是我们用于工业检测系统的新一代涡流采集单元。这款采集单元符合IP55评级标准，可以方便地集成到工业环境中。