FlawExplorer 是一种激光剪切无损检测传感器,设计用于生产后质量控制应用或现场(在役)部件检测。根据不同的应用,该传感器可配置热激励或真空(部分)激励系统,也可实现自动化。它采用了最新的移相技术,通过清晰锐利的成像和亚微米级的位移分辨率,提供准确可靠的测量结果。
FlawExplorer 传感器完全包含在一个轻巧的(5 千克/11 磅)装置中。操作传感器只需两个连接:一个用于电源,一个用于相机数据。传感器采用完全集成的成像和控制电子元件,包括一个(标准)320 万像素或(可选)500 万像素 CMOS 摄像机(最大帧频分别为 37 和 24 Hz)、一个变焦镜头、八个(3R 级)激光二极管、自动剪切、自动投影校准和移相压电元件。FlawExplorer 采用坚固耐用的设计,可以承受冲击、撞击和振动。
与任何无损检测方法相比,激光剪切成像技术的检测率都是最高的,这主要是因为它利用了多个相干激光二极管产生的大视野(FoV)。
FlawExplorer 使用 8 个激光二极管来产生较大的照明区域 = 视场 (FoV)。对于标准的 3.2 MPx 摄像机,一次拍摄的投影图像尺寸可达 2.9 米 x 2.1 米(9.4 英尺 x 7.0 英尺);对于可选的 5.0 MPx 摄像机,投影图像尺寸可达 3.4 米 x 2.8 米(11.2 英尺 x 9.3 英尺)。
---