激光二极管试验机

性能飞行

寿命测试和鉴定测试系统，用于评估半导体激光管在连续或脉冲模式下的可靠性，时间低至1纳秒。 根据多个用户调制的测试场景，对多达 112 个完全独立的光纤设备进行电气、热和光学测试。 该半导体激光管可靠性测试系统专为光纤耦合设备的鉴定和测试而设计，可进行灵活的内部和外部测量。 半导体激光管光功率是由BFMs或带可变增益的外部光电二极管独立测量的，以获得更好的精度。 它可以独立和精确地调节每个半导体激光管封装和芯片的温度。 该半导体激光管可靠性测试系统是一种短脉冲兼容的可靠性评估系统，适用于寿命测试和质量鉴定测试。 主要特征 ： 从 CW（连续波）到小于 1 ns 的脉冲宽度 CW-LIV 和 Pulsed-LIV 测试以避免热效应 每个半导体激光管可完全独立工作 适用于蝶形或其他光纤耦合封装（Mini-Butterfly、TOSA、TO-Can 等）。 每个含 8 个半导体激光管的托盘中内置嵌入式闪存 带易于使用的图形界面GUI，可进行调制监测。 带特殊保护窗口的全面激光保护 该半导体激光管可靠性测试系统的应用包括质量鉴定、寿命测试或老化测试： 与研发和认证团队的生产流程并行 在半导体激光管生产过程的最后一步 在生产之后，适用于高可靠性水平的应用，如航空航天、核电站等。 带易于使用的图形界面 GUI，用于调制监测，用户可自定义所有模块功能。 如果您对较少通道数或不需要可靠性测试功能的多通道驱动器感兴趣，您可以考虑以下产品：多通道半导体激光管驱动器