光学三维测量机 OmniLux

用于航空航天业

我们的OmniLux计量学系统是高度多才多艺的并且为组分测量提供3D CMM捕获的空前的水平在几秒钟内。因为它测量所有几何组分和任何材料，这非高精度联络，计量学系统是极端多才多艺的。可能的几何包括：球形、asphere、圆筒、内部打扰、锥体/逐渐变得尖细，步高度或者自由形态在任何材料例如优美或粗砺的金属或陶瓷和聚合物。Omnilux是快速和准确的，因为，不同于直接联系传感器，使用光学传感器意味着可以分析整个表面，当对象在空间时暂停，保证损伤不来到精美表面。我们易使用的软件界面，开发从几年经验使操作员容易地控制系统。结果富有的数据分析、自动化和出口报告以及一个紧凑脚印的直接一代的意味OmniLux是生产或减少周期的R&D环境的主导的解答对能承受的成功至关重要。